Prisma E SEM用于材料科學(xué)的掃描電子顯微鏡

簡(jiǎn)要描述：新的Prisma環(huán)境掃描電子顯微鏡（SEM）結(jié)合了廣泛的成像和分析模式與全新的的自動(dòng)化，以提供在同類儀器中的最完整的解決方案

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2024-10-25

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掃描電子顯微鏡

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詳細(xì)介紹

新的Prisma環(huán)境掃描電子顯微鏡（SEM）結(jié)合了廣泛的成像和分析模式與全新的的自動(dòng)化，以提供在同類儀器中的最完整的解決方案。它是理想的工業(yè)研發(fā)，質(zhì)量控制和故障分析應(yīng)用，提供高分辨率，樣品的靈活性和易于使用的操作界面。Prisma E SEM成功地超越了的Quanta SEM掃描電鏡。

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