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                產(chǎn)品中心

                Product

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                SolidSpec-3700/3700DUV

                簡(jiǎn)要描述:適用于光學(xué)、半導(dǎo)體及FPD應(yīng)用—島津UV-VIS-NIR分光光度計(jì)是一款的高靈敏度分光光度計(jì),可進(jìn)行深紫外區(qū)檢測(cè),具備大樣品室,可滿足光學(xué)、半導(dǎo)體及FPD在以下方面的檢測(cè)需求

                基礎(chǔ)信息

                產(chǎn)品型號(hào)

                廠商性質(zhì)

                代理商

                更新時(shí)間

                2024-10-25

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                詳細(xì)介紹

                適用于光學(xué)、半導(dǎo)體及FPD應(yīng)用—島津UV-VIS-NIR分光光度計(jì)


                SolidSpec-3700/3700DUV

                是一款的高靈敏度分光光度計(jì),可進(jìn)行深紫外區(qū)檢測(cè),具備大樣品室,可滿足光學(xué)、半導(dǎo)體及FPD在以下方面的檢測(cè)需求。


                FPD:
                材料評(píng)估中NIR和大樣品的高靈敏度測(cè)定。

                半導(dǎo)體:
                短波長(zhǎng)激光和12英寸晶片整體表面的深紫外區(qū)測(cè)定。

                光通信:
                減反射膜NIR高靈敏度測(cè)定。

                光學(xué)
                從DUV到NIR再到大樣品的高靈敏度分析。

                SolidSpec-3700/3700DUV特點(diǎn)

                高靈敏度
                SolidSpec-3700和3700DUV是臺(tái)使用3個(gè)檢測(cè)器的分光光度計(jì):光電倍增管(PMT)探測(cè)器檢測(cè)紫外區(qū)和可見(jiàn)光區(qū),近紅外區(qū)使用InGaAs 和 PbS檢測(cè)器。InGaAs 和 PbS檢測(cè)器的使用使得近紅外區(qū)域的靈敏度顯著增強(qiáng)。

                深紫外區(qū)檢測(cè)
                SolidSpec-3700DUV具有檢測(cè)深紫外區(qū)的能力,可測(cè)定至165nm或175nm的積分球。此檢測(cè)是用氮?dú)獯祾吖馐液蜆悠肥疫M(jìn)行的。注: 165nm是SolidSpec-3700DUV使用直接受光單元DDU-DUV測(cè)定)的最短波長(zhǎng)。

                大樣品室
                大樣品室(900W x 700D x 350H mm) 可在不損傷大樣品的前提下進(jìn)行檢測(cè)。其垂直光路可直接測(cè)量大樣品同時(shí)保持它們的水平狀態(tài)。使用自動(dòng)X-Y樣品臺(tái)(選配)測(cè)定樣品的尺寸是12英寸或310×310mm。

                Optional Accessories選配組件

                Direct Detection Unit DDU/DDU-DUV (for liquid/solid transmission measurements)直接受光單元DDU/DDU-DUV對(duì)于液、固樣品透過(guò)率測(cè)定
                自動(dòng)X-Y樣品臺(tái)(自動(dòng)測(cè)量)
                大型鏡面反射附件
                氮?dú)饬髁垦b置
                鏡面反射附件(5°12°30°45°)
                積分球刪除樣品盤

                一體軟件

                SolidSpec-3700/3700DUV的UVProbe軟件包括光譜模塊,光度模塊,動(dòng)力學(xué)及報(bào)告模塊等功能。多重的安全性及可追蹤性以確保刪除數(shù)據(jù)的可靠性。


                SolidSpec-3700/3700DUV

                光學(xué)組件需要對(duì)透光率及反射率進(jìn)行高精度測(cè)定。SolidSpec-3700/37000DUV擁有三個(gè)檢測(cè)器,覆蓋的范圍從紫外區(qū)到近紅外區(qū)。通過(guò)使用InGaAs和冷卻型PbS檢測(cè)器提高近紅外區(qū)的靈敏度。從而得到從紫外區(qū)到近紅外區(qū)高精度和高靈敏度光譜。


                SolidSpec-3700/3700DUV

                傳統(tǒng)的分光光度計(jì)使用一個(gè)光電倍增管對(duì)紫外和可見(jiàn)區(qū)域進(jìn)行檢測(cè)。但所有檢測(cè)器在檢測(cè)器轉(zhuǎn)換范圍內(nèi)靈敏度較低,因此在此范圍檢測(cè)時(shí)無(wú)法實(shí)現(xiàn)高靈敏度測(cè)定。 SolidSpec-3700/3700DUV通過(guò)使用InGaAs檢測(cè)器可在轉(zhuǎn)換領(lǐng)域內(nèi)進(jìn)行高靈敏度檢測(cè)。


                高靈敏度檢測(cè)


                SolidSpec-3700/3700DUV

                InGaAs檢測(cè)器和PbS 檢測(cè)器測(cè)定銳截止濾光片透過(guò)率的譜圖如下圖所示:SolidSpec-3700/3700DUV從850至1600nm范圍內(nèi)實(shí)現(xiàn)了低噪音水平,與傳統(tǒng)的分光光度計(jì)相比,1300至1600nm范圍內(nèi),噪聲減少了四分之一。

                SolidSpec-3700/3700DUV在1300-1500nm,在透過(guò)率小于1%的前提下,噪聲水平小于0.1%。此波長(zhǎng)范圍的高靈敏度分析使SolidSpec-3700/3700DUV成為檢測(cè)低反射樣品的強(qiáng)有力工具,如在光傳輸中使用的防反射涂層及薄膜。

                1500nm處的噪聲為優(yōu)水平,小于0.00005Abs(狹縫寬度8nm,RMS),刪除使用直接受光單元DDU/DDU-DUV.小于0.00003Abs(狹縫寬度2nm,RMS)



                SolidSpec-3700/3700DUV

                隨著以ArF激發(fā)激光為代表的使用深紫外激光的高精度激光儀器的發(fā)展,提高了對(duì)光學(xué)材料深紫外區(qū)透過(guò)率和反射率的測(cè)定要求。

                SolidSpec-3700DUV使用積分球時(shí)可在175nm-2600nm的范圍測(cè)定,而使用選配件直接受光單元DDU-DUV時(shí)可在165nm-3300nm的范圍測(cè)定。

                使用此附件,可實(shí)現(xiàn)從深紫外區(qū)到近紅外區(qū)寬范圍的測(cè)定。

                空氣中的氧分子會(huì)吸收190nm以下的深紫外光,需要使用氮?dú)獯祾吖馐液蜆悠肥乙猿パ醴肿拥母蓴_。SolidSpec-3700DUV各單元都設(shè)有吹掃入口,可進(jìn)行充分的氮?dú)獯祾?,以?shí)現(xiàn)深紫外區(qū)的高靈敏度和低雜散光。

                為進(jìn)行深紫外區(qū)的測(cè)定,檢測(cè)器的窗口和積分球內(nèi)壁均使用不吸收深紫外光的材料,SolidSpec-3700DUV的PMT檢測(cè)器使用特制熔融石英作為窗口材料,積分球內(nèi)壁使用深紫外區(qū)具有高反射性能的特殊樹(shù)脂。

                深紫外區(qū)高靈敏度和低雜散光測(cè)定


                SolidSpec-3700/3700DUV

                深紫外區(qū)的高精度測(cè)定要求充足光通量和低雜散光。
                右圖是使用直接受光單元DDU-DUV(選配)測(cè)定石英板的透過(guò)率光譜。
                在紫外區(qū)域可得到超低噪聲的光譜。


                SolidSpec-3700/3700DUV配有大樣品室,可使大樣品進(jìn)行無(wú)損檢測(cè)。其內(nèi)部尺寸為900W x 700D x 350H。
                可測(cè)定的樣品尺寸700W x 560D x 40H mm。樣品尺寸為12英寸或310 x 310 mm的樣品可用自動(dòng)X-Y樣品臺(tái)(選配)
                使用X-Y樣品臺(tái)的大樣品室


                SolidSpec-3700/3700DUV

                使用X-Y樣品臺(tái)測(cè)定12英寸硅片


                自動(dòng)檢測(cè)

                為SolidSpec-3700/3700DUV研發(fā)的自動(dòng)X-Y樣品臺(tái)可對(duì)提前點(diǎn)進(jìn)行自動(dòng)檢測(cè),同時(shí)又可進(jìn)行氮?dú)獯祾摺?/p>


                SolidSpec-3700/3700DUV

                12英寸硅片上SiO2薄膜的反射光譜


                SolidSpec-3700/3700DUV

                12英寸硅片上薄膜的厚度測(cè)定



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