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                產(chǎn)品中心

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                四探針電阻率測(cè)試儀

                簡(jiǎn)要描述:v應(yīng)用:半導(dǎo)體材料、太陽(yáng)能電池材料(硅、多晶硅、碳化硅等)

                基礎(chǔ)信息

                產(chǎn)品型號(hào)

                廠商性質(zhì)

                代理商

                更新時(shí)間

                2024-10-22

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                詳細(xì)介紹

                v 應(yīng)用:半導(dǎo)體材料、太陽(yáng)能電池材料(硅、多晶硅、碳化硅等),新材料、功能材料(碳納米管、DLC、石墨烯、Ag納米線等)、導(dǎo)電薄膜(金屬、離子等),擴(kuò)散層,硅相關(guān)外延材料,離子注入樣品

                v 樣品尺寸:基于所選擇的平臺(tái)而定,圓形樣品支持300mm(12 inch),或方形尺寸730x920mm

                v 測(cè)量范圍:

                ? V/I 電阻: 1.0m - 3.0M Ω

                ? 方阻: 5.0m - 10.0M Ω/sq

                ? 電阻率: 1.0μ - 300.0k Ω.cm




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