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                霍爾效應測試儀

                簡要描述:v系統(tǒng)功能:用于測量半導體材料的電阻率/電導率、流動性、散裝/片狀載體濃度、摻雜類型、霍爾系數、磁阻、垂直/水平阻力比的半導體高性能霍爾系統(tǒng)

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                廠商性質

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                更新時間

                2024-10-22

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                詳細介紹

                v 系統(tǒng)功能:用于測量半導體材料的電阻率/電導率、流動性、散裝/片狀載體濃度、摻雜類型、霍爾系數、磁阻、垂直/水平阻力比的半導體高性能霍爾系統(tǒng)。模塊化設計理念,允許輕松升級,該系統(tǒng)適用于各種材料,包括硅和化合物半導體和金屬氧化物膜等

                v 該系統(tǒng)具有低電阻率和高電阻率測量功能,具有雙重溫度功能和一個可選的低溫恒溫器,可擴展該系統(tǒng)溫度范圍從90K500K

                v 方塊電阻量程:10-4 Ω/sq ~ 106Ω/sq

                v 載流子濃度量程:106 ~ 1021 cm-3

                v 載流子遷移率量程:1 ~ 107 cm

                v 四個微調探針座,探針直接形成ohm接觸,無需焊線或制作PCB

                v 樣品測量直徑:25mm


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